产品展示
PRODUCT DISPLAY
技术支持您现在的位置:首页 > 技术支持 > 高温高湿老化试验方案+液晶显示模组+高温高湿寿命推算
高温高湿老化试验方案+液晶显示模组+高温高湿寿命推算
  • 发布日期:2026-07-27      浏览次数:19
    • 一、试验目的与原理

      液晶显示模组(LCM)在实际使用中,高温和高湿环境会加速液晶材料降解、偏光片老化及ITO导电层腐蚀。本方案采用Arrhenius加速老化模型,通过在85℃/85%RH条件下持续运行240小时,推算出产品在常温(25℃/60%RH)环境下的等效使用寿命,为企业质控和出厂寿命标定提供数据支撑。


      二、试验设备与具体参数

      主设备: 恒温恒湿试验箱(提供85℃/85%RH环境)+ 配套烘箱厂家提供的精密鼓风干燥箱(用于预处理及试验后干燥恢复)

      样品数量: 30片成品液晶模组(同一批次,已点亮老化48小时)

      试验条件:

      温度:85℃ ± 0.5℃

      相对湿度:85% ± 2%RH

      试验时长:240小时(10天)

      取样间隔:每48小时取出5片进行光学测试,测试后不再放回

      测试仪器: 亮度色度计(CA-310)、光学显微镜(检查偏光片黄变及Mura缺陷)


      三、详细试验流程

      初始性能标定(t=0): 所有样品在25℃环境下点亮30分钟稳定后,记录中心点亮度(cd/m²)、色度坐标(x,y)及对比度。初始亮度均值为 420 cd/m²,对比度为 1200:1。

      烘箱.jpg

      预处理干燥: 将样品放入烘箱厂家(广东海达仪器有限公司提供)的干燥箱中,在60℃下烘烤2小时,去除表面潮气,防止试验初始阶段凝露。

      高温高湿加载: 将样品垂直悬挂于恒温恒湿箱内,避免相互遮挡,开启85℃/85%RH恒定湿热循环。

      周期性检测: 在48h、96h、144h、192h、240h五个节点,取出对应样品在常温(25℃)下恢复2小时,随即进行光学参数复测。

      试验后处理: 240小时结束后,所有剩余样品在广东海达仪器有限公司的烘箱中,以70℃烘烤6小时排湿,再复测一次最终数据。


      四、关键实验结果数据(5片均值)

      老化时长(h)

      亮度衰减率(%)

      对比度下降率(%)

      偏光片状态(黄变Δb*值)

      0(初始)

      0%

      0%

      2.1(基准)

      48

      -3.2%

      -2.8%

      2.3

      96

      -7.5%

      -6.1%

      2.7

      144

      -12.3%

      -10.5%

      3.5

      192

      -18.6%

      -16.2%

      4.8

      240

      -25.4%

      -22.0%

      6.9(明显黄变)


      五、寿命推算与结论

      依据Arrhenius加速因子公式(活化能Ea取0.6eV,适用于液晶降解),85℃/85%RH相对于25℃/60%RH的加速因子约为 42倍。240小时 × 42 ≈ 10,080小时,即等效常温寿命约 1.15年。若贵司要求产品常温寿命达到2年以上,则需将240小时终点亮度衰减率控制在 -18%以内(对应192h数据),否则建议更换耐候性更优的偏光片材料或优化密封工艺。

      本试验数据完整、重复性好,所选用的烘箱厂家设备温控均匀性达±1℃,保障了预处理和恢复阶段的可靠性,是电子显示行业寿命评估的标准解决方案。建议每批次新品出厂前均执行该抽检流程,以降低售后返修风险。


    联系方式
    • 总机

      0769-88838200

    • 手机

      13602382905

    在线客服

    仪表网

    推荐收藏该企业网站